- [行业资讯]6G通讯晶振CS-018-114.285MHZ晶体测量老化性能及老化原因2023年06月26日 15:06
6G通讯晶振CS-018-114.285MHZ晶体测量老化性能及老化原因，老化是指晶体频率随时间的变化。在零件使用周期中的频率变化必须在应用程序中加以考虑。了解老化的原因，以及测量老化的方法，可以预测该设备的使用寿命（10至20年）的速率。
老化的原因主要有两个原因，传质和应力
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